Microscope AxioExaminer ZEISS – Configuration 2

L’Axio Examiner.A1 Configuration 2 de ZEISS est conçu pour les applications de patch clamp et électrophysiologie, offrant un espace de travail maximal autour de l’échantillon grâce au déport de l’axe optique vers l’avant de la tourelle à objectifs. Le remplacement des objectifs se fait par soulèvement (20 mm) puis rotation arrière, minimisant les interférences avec les micro-pipettes.

La platine et le condenseur peuvent être ajustés indépendamment, permettant une hauteur de travail supérieure à 100 mm. Tous les réglages essentiels — mise au point, platine, diaphragme du condenseur, éclairage dia- et épiscopique, intensité lumineuse, commutateur lumière visible/IR, DIC et contraste de gradient Dodt — sont situés à l’avant du microscope pour un accès rapide.

Le système optique permet de combiner plusieurs techniques d’observation sur le même microscope :

• Observation oblique simple : intégrée au condenseur, diaphragme pivotant 360°, alternative simple au DIC ou Dodt.
• Observation DIC : prisme Sénarmont avec réglage du polariseur sous le condenseur pour réduire perturbations et vibrations.
• Contraste de gradient Dodt : diaphragme pivotant 360°, polariseur à tirette (lumière visible/IR) et analyseur « Push & Click ».

Trois condenseurs longue distance sont disponibles : ouverture numérique 0.8 et 0.9, et 1.2 pour les nouveaux objectifs à eau avec distance de travail de 75 mm. Des objectifs avancés W-N-ACHROPLAN et W Plan-APOCHROMAT peuvent être utilisés, ainsi que des modules de changement de grossissement « Push & Click » et zoom de 0.5x à 4x, pour une flexibilité maximale.