Microscopie

MICRO MÉCANIQUE propose une gamme complète de solutions de microscopie, caméras, objectifs, éclairages, platines motorisées, chambres d’incubation et accessoires. Nous vous accompagnons de la sélection à l’installation, en passant par la formation et la maintenance, pour optimiser vos observations et vos protocoles, du laboratoire d’enseignement à la recherche avancée.

Stéréomicroscope SMZ25 – Nikon

Le Nikon SMZ25 est un stéréomicroscope de recherche haut de gamme combinant imagerie macroscopique et microscopique. Doté d’un système de zoom PZS innovant, il offre un rapport de zoom 25 : 1 inégalé, une résolution exceptionnelle et une fluorescence uniforme, même à faible grossissement. Motorisé et compatible avec une large gamme d’accessoires optiques et électroniques, ce microscope répond aux besoins exigeants des laboratoires de recherche, d’hôpitaux et d’établissements universitaires.

Caractéristiques du Stéréomicroscope SMZ25

  • Rapport de zoom : 25 : 1 (plage 0,63× à 15,75×) – motorisé
  • Grossissement total : jusqu’à 315× avec oculaire C-W 10×B et objectif SHR Plan Apo 2×
  • Ouverture numérique maximale (NA) : 0,312
  • Champ de vision maximal (FOV) : ø 70 mm
  • Technologie Perfect Zoom System : ajustement dynamique de l’écartement optique pour optimiser luminosité et résolution
  • Illumination reflet (épi-fluorescence) : Fly‑eye lens pour uniformité de fluorescence même à faible grossissement
  • Unités motorisées : Zomm et mise au point motorisés disponibles (P2‑MFU et P2‑RC)
  • Méthodes d’observation : Champ clair, fluorescence, polarisation simple, fond sombre, éclairage oblique
  • Poids : env. 32 kg (configuration épi motorisée), 30 kg (épi manuelle)
  • Consommation électrique : 30 W (motorisé), 10 W (manuel)

Applications

  • Observation et manipulation d’organismes vivants (ex. : cellules, C. elegans, embryons de souris, poisson-zèbre)
  • Imagerie fluorescente haute résolution (GFP/RFP) avec signal‑bruit optimisé
  • Analyse de matériaux et R&D industrielle
  • Contrôle qualité, analyse de défaillance, inspection de semi-conducteurs, MEMS

Documentation(s)

Fiche technique SMZ25

Fichier PDF10264.9 ko